GDL

Digital IC Tester Using Microcontroller to Detect Damage to IC Feet

Tugas Akhir, 005 / 2024 / TEL
Undergraduate Theses from JBPTPPOLBAN / 2024-10-16 10:19:15
Oleh : 211311006 - Asri Rahmawati (asri.rahmawati.tele21@polban.ac.id)
Dibuat : 2024-10-16, dengan 4 file

Keyword : Mikrokontroler, bahasa C++, penguji IC
Subjek : Microcontroller , C++ language, IC tester.

IC tester adalah perangkat atau alat yang digunakan untuk menguji dan memverifikasi kinerja serta fungsi dari Integrated Circuits (ICs) atau rangkaian terpadu. Kerusakan pada IC ketika praktikum sangat sulit untuk diketahui tanpa menggunakan sebuah alat penguji. Masalah utama yang diagkat dalam tugas akhir ini ialah dibutuhkannya alat penguji IC yang dapat menguji secara tepat. Tugas akhir ini bertujuan untuk menyediakan alat penguji IC berbasis mikrokontroler dengan menggunakan bahasa pemrograman C++. Metode yang digunakan adalah eksperimen di laboratorium digital Polban dengan cara pengujian melibatkan pemberian masukan sesuai prinsip kerja setiap gerbang pada IC yang diuji. Hasil eksperimen ini difokuskan pada obyek ICCMOS dan IC TTL yang memungkinkan pengujian IC melalui papan tombol yang tersedia pada mikrokontroler sebagai proses seleksi. Hasil pengujian yang didapatkan yaitu IC tester dapat menguji IC 4077, 4070, 7432, 7400, dan 7404 lalu menunjukkan hasil pengujian pada layar LCD dengan informasi mengenai kondisi IC, seperti "IC baik" atau "IC rusak". Alat penguji IC berbasis mikrokontroler ini dapat digunakan untuk menguji kondisi kaki IC. Kata kunci: Mikrokontroler, bahasa C++, penguji IC.

Deskripsi Alternatif :

An IC tester is a device or tool used to test and verify the performance and functions of Integrated Circuits (ICs). Damage to ICs during practical sessions is very difficult to detect without using a testing device. The main issue addressed in this final project is the need for an IC tester that can accurately test ICs. This final project aims to provide a microcontroller-based IC tester using the C++ programming language. The method used involves experiments in the Polban digital laboratory, where testing involves inputting signals according to the working principles of each gate in the IC being tested. The focus of this experiment is on CMOS and TTL ICs, enabling IC testing through a keypad available on the microcontroller as a selection process. The testing results show that the IC tester can test ICs such as 4077, 4070, 7432, 7400, and 7404, and display the testing results on an LCD screen with information about the IC's condition, such as "IC good" or "IC damaged". This microcontroller-based IC tester can be used to test the condition of IC pins. Keywords: Microcontroller , C++ language, IC tester.

Beri Komentar ?#(0) | Bookmark

Properti	Nilai Properti
ID Publisher	JBPTPPOLBAN
Organisasi
Nama Kontak	Erlin Arvelina
Alamat	Jl. Trsn. Gegerkalong Hilir Ds. Ciwaruga
Kota	Bandung
Daerah	Jawa Barat
Negara	Indonesia
Telepon	022 201 3789 ext. 168, 169, 239
Fax	022 201 3889
E-mail Administrator	erlin.arvelina@polban.ac.id
E-mail CKO	erlin.arvelina@polban.ac.id